El amplificador operacional bajo radiación de neutrones rápidos y consecuencias en otros dispositivos
Esta memoria afronta el problema de la degradación de los amplificadores operacionales construidos en tecnología bipolar cuando son irradiados con neutrones rápidos. Este tipo de radiación produce daño por desplazamiento en la red cristalina del semiconductor, hecho que conduce a la degradació...
| Main Author: | |
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| Corporate Author: | |
| Format: | eBook |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Madrid :
Universidad Complutense de Madrid,
2005.
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://elibro.net/ereader/uninicaragua/88671 |