El amplificador operacional bajo radiación de neutrones rápidos y consecuencias en otros dispositivos

Esta memoria afronta el problema de la degradación de los amplificadores operacionales construidos en tecnología bipolar cuando son irradiados con neutrones rápidos. Este tipo de radiación produce daño por desplazamiento en la red cristalina del semiconductor, hecho que conduce a la degradació...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Franco Peláez, Francisco Javier.
Corporate Author: e-libro, Corp.
Format: eBook
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, 2005.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/uninicaragua/88671
LEADER 02900nam a2200337 a 4500
001 ELB88671
003 FlNmELB
006 m o d |
007 cr cn|||||||||
008 130611s2005 sp s 000 0 spa d
020 |z 9788466927871 
035 |a (MiAaPQ)EBC3176052 
035 |a (Au-PeEL)EBL3176052 
035 |a (CaPaEBR)ebr10234532 
035 |a (OCoLC)928748995 
040 |a FlNmELB  |b spa  |c FlNmELB 
050 4 |a QC475  |b F825 2005eb 
080 |a 537.53 
100 1 |a Franco Peláez, Francisco Javier. 
245 1 3 |a El amplificador operacional bajo radiación de neutrones rápidos y consecuencias en otros dispositivos  |h [recurso electronico]  |c Francisco Javier Franco Peláez ; director, Juan Andrés de Agapito Serrano. 
260 |a Madrid :  |b Universidad Complutense de Madrid,  |c 2005. 
300 |a 271 p. 
500 |a Universidad Complutense de Madrid. Facultad de Ciencias Físicas. Departamento de Física Aplicada III. 
520 |a Esta memoria afronta el problema de la degradación de los amplificadores operacionales construidos en tecnología bipolar cuando son irradiados con neutrones rápidos. Este tipo de radiación produce daño por desplazamiento en la red cristalina del semiconductor, hecho que conduce a la degradación de los componentes internos. Al estar relacionados con éstos, se prevé una modificación de los parámetros eléctricos externos de los amplificadores operacionales. Este hecho ha sido comprobado de forma experimental en amplificadores operacionales comerciales en una fuente de neutrones especialmente dedicada. Para ello, se diseñó un sistema automático de caracterización, que fue optimizado para realizar un seguimiento exhaustivo de los parámetros durante el proceso de irradiación. Asimismo, se decidió extrapolar los resultados obtenidos en los amplificadores operacionales a aquellos dispositivos en los que se hubiese integrado algún amplificador de este tipo. Estos componentes fueron los amplificadores de instrumentación, integrados generalmente por tres amplificadores operacionales; referencias de tensión, en los que el amplificador desempeña un papel importante para mejorar las características de salida; finalmente, se estudiaron los conversores D/A, en los que existe tanto un amplificador operacional encargado de convertir corriente en tensión como una referencia interna de tensión. En general, los resultados teóricos y experimentales concuerdan perfectamente. 
533 |a Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro. 
650 4 |a Radiación. 
650 0 |a Radiation. 
655 4 |a Libros electrónicos. 
700 1 |a Agapito Serrano, Juan Andrés de,  |e dir. 
710 2 |a e-libro, Corp. 
856 4 0 |u https://elibro.net/ereader/uninicaragua/88671