| Summary: | El trabajo que se presenta en esta memoria se centra en el crecimiento de cristales y caracterización, sobre todo estructural, de los mismos. Se presta especial atención a la caracterización de los materiales con el fin de esclarecer determinados aspectos estructurales y microestructurales, en relación con las propiedades superconductoras, se ha pretendido en cada caso hacer uso de las técnicas difractométricas más adecuadas para el estudio del aspecto más relevante del material en cuestión. Así, se utiliza la difracción de Rayos X tanto sobre polvo como sobre monocristal, la difracción de nuetrones y la difracción de electrones y microscopía electrónica. El trabajo se ha centrado en algunos miembros de la familia Ybacuo que presentan características estructurales de especial interés: (Cu Beta)Cu(7)O(7) y Ba(2)PrCu(3)O(7), así como en materiales ...
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