Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Bibliographic Details
Main Author: Infante Abreu, Marta Beatriz.
Other Authors: Delgado Fernández, Mercedes, (tutor.), Díaz Batista, Antonio, (tutor.)
Format: Tesis eBook
Language:Spanish
Published: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/uninicaragua/90796