Micro- y nanocaracterización de ZnSe y ZnO por microscopía electrónica de barrido y microscopías de campo próximo
En este trabajo se han caracterizado monocristales de ZnSe obtenidos por recristalización en fase sólida (SPR) y ZnO en forma de monocristal y de película delgada mediante el uso de técnicas basadas en el microscopio electrónico de barrido (SEM) y el microscopio túnel de barrido (STM). En el c...
| Main Author: | |
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| Corporate Author: | |
| Format: | eBook |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Madrid :
Universidad Complutense de Madrid,
2003.
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://elibro.net/ereader/uninicaragua/88228 |