Díaz-Guerra Viejo, C. (1999). Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel. Madrid: Universidad Complutense de Madrid.
Chicago Style CitationDíaz-Guerra Viejo, Carlos. Estudio De Propiedades De Recombinación Electrónica En Superconductores De Alta Temperatura Crítica Mediante Técnicas De Microscopía Electrónica De Barrido Y Microscopía Túnel. Madrid: Universidad Complutense de Madrid, 1999.
MLA CitationDíaz-Guerra Viejo, Carlos. Estudio De Propiedades De Recombinación Electrónica En Superconductores De Alta Temperatura Crítica Mediante Técnicas De Microscopía Electrónica De Barrido Y Microscopía Túnel. Madrid: Universidad Complutense de Madrid, 1999.