Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio comportamiento en la exposición a la atmósfera - Bartolomé García, María Jesús.; González Fernández, José Antonio; López Serrano, Víctor; e-libro, Corp. (Madrid : Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones, 2008)
Tesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008.
Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.
Keywords: Microscopía electrónica.; Electron microscopy; Microscopia electronica; Libros electrónicos.